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发布时间：2023/7/7 16:39:35阅读人数：348
好消息！法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免，无需出口许可！
法国Phasics成立于2003年，提供的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性，从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。
近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉，公司提交申请的高精度红外（3-5um &8-14um）/近红外（900-1700nm）波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器时无需再提供*终用户备案。
下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪：
1. SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器
图1 SID4-SWIR波前分析仪
SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器产品特点：
高相位分辨率：160x128 or 80x64
高重复度：<2nm RMS
高测量精度：15nm RMS
工作波段：900-1700nm
高灵敏度：可适用于低功率红外光源测试
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷
2. SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪
SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪产品特点：
宽工作波段：3-5um & 8-14um
高相位分辨率：160x120
高重复度：25nm RMS
高测量精度：75nm RMS
对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷
3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统
近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点：
多波长：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um
大口径：Up to 5.1”(130mm)
高重复度精度：<0.7nm RMS
高测量精度：80nm PV
对震动不敏感
测试案例：
图7 镜头MTF测试结果
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