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当测量峰值达300 cd/m2
随着高清电视时代的全面开始,为了更好地还原明锐亮丽、高分辨率的图像,一些更高质量的支持全高清的显示设备的发展也日益加速。目的技术可达到亮度层次100,000 : 1的对比度,画面会给您更真实的感受。由于需要有仪器能够测量到更低的亮度,因此在重现一些“比黑色更黑的”图像时,技术上遇到了瓶颈。
另外,一些其他类型的发光元件发展迅速,如有机电致发光(Organic EL)与传统的LCD和PDP显示一样,都需要更高精度的光谱辐射曲线分析。CS-2000就是一款具有以上测量功能的分光辐射亮度计,它的低亮度测量达到了很高水平,低达0.003 cd/m2,高测量对比度可达100,000 : 1。
测量实例:测量一块研发阶段时的有机电致发光(Organic EL)平板
将的光学设计技术与信号处理技术充分结合,为在很低亮度0.003 cd/m2下色度和亮度测量的高精度提供了保障。
低亮度测量:从0.003 cd/m2 起
测量精度:±2%(亮度)
仪器的独特设计充分消除了机械及电路噪声,使CS-2000在低亮度时也能进行重复性很好的迅速测量。
1 cd/m2 时的测量时间:
约5(快速模式)
以的型号CS-1000:约123
由于使用反射型衍射光栅引起的偏振误差被减小到只有2%(测量角度:1°)。这使那些使用偏振片的显示设备如LCD的测量数据的稳定性得到了保障。
仪器仅5 nm的半波宽,满足了对于色度测量的要求(JIS Z 8724-1997,CIE 122-1996),保证了在整个可见光波长范围内色度的精确测量。
CS-2000可根据您不同的应用对象,选择不同的光学测量角度。
测量角度选择:1°,0.2°,0.1°
小测量面积:Ø0.1 mm(使用近摄镜时)
仪器的操作温度范围是5℃~35℃,与实际工作环境相近,保证仪器操作时的可靠性。
仪器仅仅需要在开机后预热30,即可进行正常测量。(测量角度:1°;目标亮度:5 cd/m2以上;23℃时)
1.
内同步测量
通过输入同步频率进行测量
2.
外同步测量
通过外接输入垂直同步信号进行测量
3.
多重积分模式测量
减少测量非同步时采集信号的变化或测量那些发光特性周期不规则的光源
彩色LCD显示屏和操作面板设置在仪器背面,简洁的按钮排列使您可以更直观地调用想要的功能。
更新时间:2023/11/11 17:14:08
半导体薄膜无损检测仪型号:
光弹性系数测量仪型号:
大孔径高功率光隔离器型号:
薄膜测量系统单点测量型号:MProbe 20
大尺寸皮MCP探测器型号:LAPPD
实时测量自相关仪型号:FR-103kHz
高功率自相关仪型号:FR-103HP
分光辐射亮度计型号:CS2000
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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