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NK732高精度时间间隔测量仪与频率计数器(2ps)产品简介:
NK732高精度时间间隔测量仪与频率计数器(2ps)是一款高性能时频测量仪器。时间间隔与频率计数器的高分辨率和吞吐量,以及连续测量能力,可以执行传统时间间隔计数器无法进行的测量。例如,时间间隔与频率计数器可以将事件(输入脉冲序列的边缘)以每2000万次的速度连续地标记到机载内存中,而每条边缘测量分辨率为2 ps。这使它能够分析脉冲定时、脉冲宽度或频率的动态变化。换句话说,时间间隔分析仪和传统计数器/定时器之间的区别类似于电压表和示波器之间的区别。测量还可以在PXIe接口上实时连续流,允许以高速率进行无限制的采集。
脉冲序列的直接时间测量
测量抖动、频率、时间间隔、脉冲宽度、上升时间、事件计时、时间间隔误差(TIE)等
2ps单发分辨率(12位/频率)
DC至500MHz频率范围的所有测量功能,包括脉冲宽度,加上一个6 GHz预调器的频率和时间间隔误差测量
每可连续进行2000万次零死时间测量
输入脉宽窄至100ps
超高吞吐量PXIe接口(x1, x2, or x4)
板上内存支持1.28亿次测量-可以实时测量读取
时间间隔与频率计数器NK732是一个具有完善功能和特点的板卡,它可以提供一般台式仪器包括的高质量输入,内置NIST可跟踪校准,软件和硬件,并提供全面的计算结果。时间间隔分析仪具有频率、时间间隔、脉冲宽度等10项测量功能。输入信号的频率高达500兆赫,没有任何预标。也就是说您可以测量窄至1纳的脉冲,频率高达500MHz,或者测量高达500MHz时两个信号之间的偏移。每个输入通道都有一个可选的预调器,允许频率、周期和TIE测量到6.0 GHz。
锁相环和调频-测量抖动、时间间隔误差和稳定时间
串口定时和表征
超声波和激光雷达
光子计数-测量到达时间分辨率2ps
光驱和磁盘驱动器-直接测量抖动,上升时间和bit时序
振荡器和晶体——测量频率、启动时间和时间间隔误差
激光雷达——时间戳脉冲高达20兆赫
脉宽调制信号-测量随时间的变化
实时事件信号的时间标记
粒子物理
该软件使得时间间隔与频率计数器NK732更加方便使用,更容易实现高性能。驱动程序软件(Windows和Linux)自动以较高的速率管理测量数据流,这在x4 PXIe接口中是可能的。Windows的面板软件允许您轻松地同时设置多个测量值的显示。这提供了相同数据的多个视图,或者来自相同数据的不同函数的多个视图。例如,您可以设置显示器来显示信号的频率与时间的关系图,加上相同结果的表格显示,加上信号与时间的时间偏差关系图,所有这些都来自于相同的测量采集运行。面板还可以同时运行多个仪器。所有仪器型号都使用相同的驱动程序,以便在型号之间方便地迁移。
NK732高精度时间间隔测量仪与频率计数器(2ps)测试报告:
下面的屏幕图像来自62.5 MHz时钟的实际测量。在实验中,仪器被设置成每3个周期测量一次信号(每48纳),进行1000次测量。第二个有10测量了每300ppm(每4.8µs)的信号。测量的总采购时间是48µs运行。
右上角显示的是连续时间间隔(CTI),这是连续测量之间的时间间隔,标准差是1.6 ps。
左下角的显示是CTI的图形。图的分辨率1ps。
右下角的显示是一个频率测量表,但它也显示了每次测量时的时间和事件编号。这个附加的时间戳信息可以成为分析信号细节的强大的工具。
更新时间:2023/11/11 17:14:08
迷你阻抗分析仪型号:ISX-3 MINI
激光鉴频器型号:OFD
1-9GHz任意波形发生器AWG型号:Proteus系列
手持式膜厚测量仪型号:MProbe 20 HC
在线薄膜厚度实时测量仪型号:MPROBE 70
薄膜厚度均匀度测量系统型号:MPROBE 60
原位薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 50 INSITU
微小区域薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 40 MSP
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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