发布时间:2022/3/4 10:57:57
标签:微小区域薄膜厚度测量仪 薄膜干涉 薄膜厚度
MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜,用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP用于数千种应用程序,并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的模型主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这反过来又决定了可以测量的厚度范围。
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP的应用:
1. 测量圆柱或曲面上薄膜厚度:注射器、支架、销钉、电线等。即使在高度弯曲的表面上,小点也会产生平坦的场以实现精确测量。
2. 不均匀、粗糙的涂层或光散射材料,如高雾度或纳米粒子注入薄膜。小光斑定位测量有效地减少光散射和不均匀性的影响
3.图案晶圆、MEMS 和其他需要高灵敏度领域的小区域测量的应用。
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP基本规格:
精度 | 0.01nm或0.01% |
准确度 | 0.2%或1nm |
稳定性 | 0.02nm或0.03% |
聚焦点尺寸 | 0.2mm或0.4mm |
样品尺寸 | >20mm |
厚度范围 | 0.05-70um |
波长范围 | 400-1000nm |
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP选型列表:
MProbe 40 | 波长范围 | 厚度范围 |
VIS | 400nm -1100nm | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 200nm -1100nm | 1nm -75μm |
VISHR | 700nm-1100nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -1700nm | 1nm – 85μm |
UVVISNIR | 200nm-800nm | 1nm -5μm |
NIRHR | 1500nm -1550nm | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
*可根据要求设计定制探头
您可以通过我们昊量光电的网站www.auniontech.com了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。
更新时间:2023/11/11 17:14:16
迷你阻抗分析仪型号:ISX-3 MINI
激光鉴频器型号:OFD
1-9GHz任意波形发生器AWG型号:Proteus系列
手持式膜厚测量仪型号:MProbe 20 HC
在线薄膜厚度实时测量仪型号:MPROBE 70
薄膜厚度均匀度测量系统型号:MPROBE 60
原位薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 50 INSITU
微小区域薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 40 MSP
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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