原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU用于测量薄膜厚度和 n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的,以支持不同的真空室几何形状。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU根据可用的光学端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部(使用光纤馈通)。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU优势:
1.原位薄膜厚度和 n&k 测量
2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集
3.材料:500+ 扩展材料数据库
4.连续、快速和可靠的测量
5.灵活的配置——完全定制以匹配沉积室的几何形状
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU选型列表:
MProbe50 | 波长范围 | 厚度范围 |
VIS | 400nm -1100nm | 15nm – 20 μm |
HRVIS | 700nm-1000nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 100nm – 200μm |
UVVisF | 200nm -900nm | 1nm – 20μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -200μm |
XT | 1590nm -1650nm | 10μm-1mm |
更新时间:2023/11/11 17:14:16
迷你阻抗分析仪型号:ISX-3 MINI
激光鉴频器型号:OFD
1-9GHz任意波形发生器AWG型号:Proteus系列
手持式膜厚测量仪型号:MProbe 20 HC
在线薄膜厚度实时测量仪型号:MPROBE 70
薄膜厚度均匀度测量系统型号:MPROBE 60
原位薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 50 INSITU
微小区域薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 40 MSP
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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