手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至 10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚度测量,我们推荐MProbe 40 MSP系统。
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)测量特点:
1.支持底漆或界面 (IPL) 层;
2.曲面和/或大型零件的厚度测量;
3.可以测量有色产品,校正背面反射;
4.材料:500多种扩展材料数据库;
5.一键可靠测量。
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)规格指标:
精度 | 0.01nm或0.01% |
准确度 | 0.2%或1nm |
稳定性 | 0.02nm或0.03% |
聚焦点尺寸 | 0.2mm或0.4mm |
样品尺寸 | >20mm |
厚度范围 | 0.05-70um |
波长范围 | 400-1000nm |
*可根据要求设计定制探头
更新时间:2023/11/11 17:14:16
迷你阻抗分析仪型号:ISX-3 MINI
激光鉴频器型号:OFD
1-9GHz任意波形发生器AWG型号:Proteus系列
手持式膜厚测量仪型号:MProbe 20 HC
在线薄膜厚度实时测量仪型号:MPROBE 70
薄膜厚度均匀度测量系统型号:MPROBE 60
原位薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 50 INSITU
微小区域薄膜厚度测量仪型号:MPROBE 40 MSP
Product classification
主营产品:昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件,连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
版权所有©上海昊量光电设备有限公司, All Right Reseverd ICP备案号: 沪ICP备08102787号-5 总访问量:492219 管理登录 阿仪网设计制作,未经允许翻录必究