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发布时间：2020/5/12 9:09:41
所属类别： ? 激光测量设备 ? 偏振态测量仪
所属品牌：美国Hinds Instruments公司
产品简介
高精度偏振态测量（斯托克斯量测量）系统
紫外~近红外 高精度斯托克斯量测量系统
利用光弹调制器技术，Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到100组（400个斯托克斯量）。
波段上，除了可见光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用
斯托克斯测量系统，偏振测量系统，偏振测量仪，椭偏仪，偏振态测量仪
利用光弹调制器技术，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到每秒100组（400个斯托克斯量）。
波段上，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪除了可将光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用
总的来说，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪为有高精度，高速度需求的偏振态测量需求提供了全套解决方案。
产品参数：
1. Wavelength Range: 400 – 700 nm 可拓展到深紫外至 中远红外 （130 nm to 18 um）
2. Stokes parameter accuracy: better than 1%
3. Stokes parameter sensitivity: 0.0001
4. Fiber compatible options available
5. 探测强度：皮瓦
产品应用：
1. 质检测量
2. 材料测量
3. SOP and DOP
4. 天文探测
5. 光纤偏振态探测
更新时间：2023/11/11 17:14:03
半导体薄膜无损检测仪型号：
光弹性系数测量仪型号：
大孔径高功率光隔离器型号：
薄膜测量系统单点测量型号：MProbe 20
大尺寸皮MCP探测器型号：LAPPD
实时测量自相关仪型号：FR-103kHz
高功率自相关仪型号：FR-103HP
分光辐射亮度计型号：CS2000
Product classification
主营产品：昊量代理的产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件，连续激光器(CW),ns | ps | fs 脉冲激光器,可调谐激光器,激光量测设备,调制器,偏转器,滤波器,空间光调制产品,信号处理,分析设备,光谱仪器,相机系列,光学器件,光栅,光学晶体,光纤器件,位移台,偏转镜,旋转台,冷原子,量子光学产品,材料分析设备,光学检测设备,显微成像系统及组件,光学隔振平台,THz产品,X射线产品,等
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